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Supporto per incisione PSS rivestito in SiC

Supporto per incisione PSS rivestito in SiC

I supporti per wafer utilizzati nella crescita epissiale e nella lavorazione dei wafer devono sopportare temperature elevate e una pulizia chimica aggressiva. Semicorex SiC Coated PSS Etching Carrier progettato specificamente per queste esigenti applicazioni di apparecchiature epitassia. I nostri prodotti hanno un buon vantaggio di prezzo e coprono molti dei mercati europei e americani. Non vediamo l'ora di diventare il vostro partner a lungo termine in Cina.

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Descrizione del prodotto

Non solo per le fasi di deposizione di film sottili come l'epitassia o MOCVD, o l'elaborazione di manipolazione dei wafer come l'incisione, Semicorex fornisce supporti per incisione PSS rivestiti in SiC ultrapuri utilizzati per supportare i wafer. Nell'incisione al plasma o nell'incisione a secco, questa apparecchiatura, i suscettori epitassici, le piattaforme fritte o satellitari per il MOCVD, vengono prima sottoposti all'ambiente di deposizione, quindi hanno un'elevata resistenza al calore e alla corrosione. Il supporto per incisione PSS rivestito in SiC ha anche un'elevata conducibilità termica ed eccellenti proprietà di distribuzione del calore.

I supporti per incisione PSS (Patterned Sapphire Substrate) rivestiti in SiC sono utilizzati nella fabbricazione di dispositivi LED (Light Emitting Diode). Il vettore di incisione PSS funge da substrato per la crescita di un sottile film di nitruro di gallio (GaN) che forma la struttura LED. Il supporto di incisione PSS viene quindi rimosso dalla struttura del LED utilizzando un processo di incisione a umido, lasciando dietro di sé una superficie modellata che migliora l'efficienza di estrazione della luce del LED.


Parametri del supporto per incisione PSS rivestito in SiC

Principali specifiche del rivestimento CVD-SIC

Proprietà SiC-CVD

Struttura di cristallo

FCC fase β

Densità

g/cm³

3.21

Durezza

Durezza Vickers

2500

Granulometria

μm

2~10

Purezza chimica

%

99.99995

Capacità termica

J·kg-1 ·K-1

640

Temperatura di sublimazione

2700

Resistenza alla flessione

MPa (RT 4 punti)

415

Modulo di Young

Gpa (curva 4pt, 1300℃)

430

Espansione termica (C.T.E)

10-6K-1

4.5

Conduttività termica

(W/mK)

300


Caratteristiche del supporto per incisione PSS rivestito in SiC di elevata purezza

- Sia il substrato di grafite che lo strato di carburo di silicio hanno una buona densità e possono svolgere un buon ruolo protettivo in ambienti di lavoro ad alta temperatura e corrosivi.

- Il suscettore rivestito di carburo di silicio utilizzato per la crescita di un singolo cristallo ha una planarità superficiale molto elevata.

- Ridurre la differenza del coefficiente di espansione termica tra il substrato di grafite e lo strato di carburo di silicio, migliorare efficacemente la forza di adesione per prevenire fessurazioni e delaminazione.

- Sia il substrato di grafite che lo strato di carburo di silicio hanno un'elevata conduttività termica ed eccellenti proprietà di distribuzione del calore.

- Alto punto di fusione, resistenza all'ossidazione ad alta temperatura, resistenza alla corrosione.





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